Visió general:

Crush és molttípicprova per verificar la seguretat de cells, simulant la col·lisió aixafada de cellso producte finalsen l'ús diari.En general hi ha dos tipus deaixafarproves: plaaixafari parcialaixafar.En comparació amb el pisaixafar, el parcialsagniacausada per un sagnador esfèric o cilíndric és més probable que provoqui lacel·la ineficaç.Com més nítid sigui el sagnador, més concentrada serà l'estrès a l'estructura central de la bateria de liti, més greu serà la ruptura de l'interior.nucli, que provocarà la deformació i el desplaçament del nucli, i fins i tot provocarà conseqüències greus com ara fuites d'electròlits o fins i tot incendi.Llavors, com ho faaixafarconduir a ladesactivaciódel cell? Aquípresentar-vos l'evolució de l'estructura interna del nucli a la prova d'extrusió local.

Aixafarprocés:

• La força de compressió s'aplica primer al recinte cel·lular i el recinte es deforma.Aleshores, la força es transfereix a l'interior de la bateria i el conjunt de la cèl·lula també comença a deformar-se.
• Amb una compressió addicional del capçal de trituració, la deformació s'expandeix i es forma la localització.Al mateix temps, l'espai entre capes entre cada capa d'elèctrode s'escurça gradualment.Sota compressió contínua, el col·lector de corrent es doblega i es deforma i es formen bandes de cisalla.Quan la deformació del material de l'elèctrode arriba al límit, el material de l'elèctrode produirà esquerdes.
• Amb l'augment de la deformació, l'esquerda s'estén gradualment fins al col·lector actual, que es trencarà i produirà una fractura dúctil.A més, l'esquerda radial s'allarga a causa de l'augment de la tensió i el desplaçament radial.
• En aquest punt, la força d'extrusió continua comprimint la cèl·lula, fent que més capes d'elèctrodes pateixin deformacions, la qual cosa condueix a l'expansió de la zona de cisalla, canvi en l'angle d'inclinació (45 °) i una major expansió del rang de la zona de cisalla.
• Finalment, a mesura que el diafragma continua estirat i retorçat, les esquerdes s'estenen fins al diafragma.Quan arriba al punt de desactivació, el diafragma es trenca i els elèctrodes adjacents entren en contacte, formant un curtcircuit intern.En aquest punt, es genera un gran corrent de curtcircuit al punt de curtcircuit, que provoca un escalfament intens i un ràpid augment de la temperatura, que desencadenarà les reaccions laterals dins de la cèl·lula i, finalment, es pot produir un abús tèrmic.

Resum:

La prova d'aixafament és una mena d'abús mecànic.L'abús mecànic és un perill de seguretat inevitable en l'ús diari de bateries d'ions de liti, que pot provocar la ruptura del diafragma i provocar un curtcircuit intern.Tanmateix, a causa de la forma del capçal d'aixafament, la mida de la pressió de trituració i la força de la pròpia cèl·lula varia, els resultats de la prova d'aixafament sovint varien molt.Cal optimitzar el material o l'estructura de la cèl·lula per evitar al màxim la desactivació de la cèl·lula provocada per prova d'aixafament.Per exemple, l'ús d'un diafragma més segur i dúctil o la millora del rendiment de dissipació de calor de la cèl·lula pot prevenir en gran mesura l'abús tèrmic quan es produeix un curtcircuit intern.